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● 高性能的Elstar電子束鏡筒結合UC+單色器的技術， 實現了亞納米級的SEM 和S/TEM圖像分辨率
● 杰出的低kV Phoenix離子束性能使TEM樣品制備時可以達到只有亞納米級的 損傷
● 可以通過多達5個集成束內和透鏡下探測器獲得清晰的、精細的、免費的 對比圖像
● MultiChem氣體輸送系統為在雙光束平臺下電子和離子束誘導沉積和刻蝕 提供了最先進的技術支持。
● EasyLift EX 納米操 作手能夠精確的、定點的制備超薄TEM薄片，同時提高 了用戶的信任度和產量
● STEM 4 探測器在TEM薄片樣品上提供了出色的分辨率和對比度
● 來自Thermo Fisher Scientific 在雙光束應用內失效分析領域內的世界級 的專業知識的支持
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